1 Il richiedente può chiedere la consegna o l’invio di campioni a scopo di esame oppure può chiedere di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti. Invece di campioni l’UDSC può trasmettere al richiedente fotografie dei prodotti a semiconduttori ritenuti, se queste ne consentono l’esame.
2 La richiesta può essere presentata insieme alla domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane o, durante la ritenzione dei prodotti a semiconduttori, direttamente all’ufficio doganale che trattiene i prodotti a semiconduttori.
28 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).
1 Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’OFDF peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.
2 Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semi-conducteurs.
28 Introduit par le ch. I de l’O du 21 mai 2008, en vigueur depuis le 1er juil. 2008 (RO 2008 2543).
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