Diritto nazionale 2 Diritto privato - Procedura civile - Esecuzione 23 Proprietà intellettuale e protezione dei dati
Landesrecht 2 Privatrecht - Zivilrechtspflege - Vollstreckung 23 Geistiges Eigentum und Datenschutz

231.21 Ordinanza del 26 aprile 1993 sulla protezione delle topografie di prodotti a semiconduttori (Ordinanza sulle topografie, OTo)

231.21 Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (Topographienverordnung, ToV)

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Art. 18c Conservazione dei mezzi di prova in caso di distruzione dei prodotti a semiconduttori

1 L’UDSC trattiene i campioni prelevati per un periodo di un anno dalla notifica del depositante, del detentore o del proprietario in virtù dell’articolo 77 capoverso 1 della legge del 9 ottobre 199231 sul diritto d’autore. Allo scadere di tale termine l’UDSC invita il depositante, il detentore o il proprietario a prendere in custodia i campioni, oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore. Qualora il depositante, il detentore o il proprietario non sia disposto a prendere in custodia i campioni oppure ad assumere i costi per la conservazione ulteriore, o se non si esprime entro 30 giorni, l’UDSC distrugge i campioni.

2 Invece di prelevare campioni l’Amministrazione delle dogane può fotografare i prodotti a semiconduttori distrutti, a condizione che ciò consenta di garantire la conservazione dei mezzi di prova.

30 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).

31 RS 231.1

Art. 18c Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse


1 Das BAZG bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 199231 auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert es die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren beziehungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungsweise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet das BAZG die Proben oder Muster.

2 Das BAZG kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotografien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.

30 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 (AS 2008 2543).

31 SR 231.1

 

Il presente documento non è una pubblicazione ufficiale. Fa unicamente fede la pubblicazione della Cancelleria federale. Ordinanza sulle pubblicazioni ufficiali, OPubl.
Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend ist allein die Veröffentlichung durch die Bundeskanzlei.