1 Il richiedente può chiedere la consegna o l’invio di campioni a scopo di esame oppure può chiedere di ispezionare i prodotti a semiconduttori ritenuti. Invece di campioni l’UDSC può trasmettere al richiedente fotografie dei prodotti a semiconduttori ritenuti, se queste ne consentono l’esame.
2 La richiesta può essere presentata insieme alla domanda d’intervento alla Direzione generale delle dogane o, durante la ritenzione dei prodotti a semiconduttori, direttamente all’ufficio doganale che trattiene i prodotti a semiconduttori.
28 Introdotto testo giusta il n. I dell’O del 21 mag. 2008, in vigore dal 1° lug. 2008 (RU 2008 2543).
1 Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann das
2 Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.
28 Eingefügt durch Ziff. I der V vom 21. Mai 2008, in Kraft seit 1. Juli 2008 (AS 2008 2543).
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